南方科技大學(xué) --- 競采采購公告 項(xiàng)目名稱 芯片測試服務(wù) 項(xiàng)目編號 --- 項(xiàng)目類型 服務(wù)類 成交方式 最低價成交 采購方式 公開競采 公告開始時間 -- :: 公告結(jié)束時間 -- :: 預(yù)算(元) . 備注 采購明細(xì) 序號 名稱 數(shù)量 單位 芯片測試服務(wù) 次 服務(wù)內(nèi)容 . 功能測試：評估芯片在各種場景下的計算性能，包括處理速度、功耗、精度等指標(biāo)的測試。通過向芯片輸入預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)模式并檢查輸出結(jié)果，驗(yàn)證芯片內(nèi)各個邏輯單元是否按設(shè)計要求正確執(zhí)行運(yùn)算和處理任務(wù)。同時，還要檢測芯片內(nèi)部各信號路徑之間的時序關(guān)系是否滿足設(shè)計規(guī)范，包括建立時間、保持時間等參數(shù)。此外，還要評估芯片的工作速度、響應(yīng)時間和數(shù)據(jù)吞吐量，以確認(rèn)其在高速運(yùn)行下的性能表現(xiàn)。.功能測試：驗(yàn)證芯片是否按照設(shè)計規(guī)格正確工作，包括....